Applied Nanotools社の電子顕微鏡用校正標準は、電子顕微鏡用のキャリブレーションスタンダードです。AFM, STM, TEM, SEMといった各種電子顕微鏡において校正ツールとしてご利用いただけます。
サイズや形状などはカスタマイズ可能ですので、弊社営業部までお気軽にお問い合わせください。
アプリケーション
- 電子顕顕微鏡の校正
- 高分解能形状計測
- X線イメージング
サンプル画像
L字パターン
セクタースターパターン
取扱製品
- 【特集】フェムト秒レーザー関連製品
- 【特集】Ｘ線関連製品
- 【特集】中赤外レーザー関連製品
- CWレーザー
- パルスレーザー
- レーザー周辺機器
- レーザービーム位置安定化システム Aligna
- ファイバカップリング安定化装置 FiberLock
- 周波数・波長安定化装置 LaseLock
- 発振器内蔵型位相検出器 miniPDH
- 波長可変レーザー用安定化装置 iScan
- 半導体レーザーコントローラー
- AOM用RFシンセサイザー
- 波長変換装置
- フェムト秒パルス測定器 d-scan／d-cycleシリーズ
- 固体レーザー増幅器 neoVAN
- シングルショット対応フェムト秒パルス測定器 d-shot
- 分光器 Sシリーズ
- マルチフォトン顕微鏡用フェムト秒パルス測定器／圧縮器 d-micro
- 波長計 SHRシリーズ
- スタンドアロン波長計 FZW600・MWM
- 小型高精度波長計 WaveEye
- In-situ電子顕微鏡用MEMSデバイス
- 磁気光学トラップ実験キット miniMOTシリーズ
- BEC用実験機材
- 光学素子・光学部品
- 光学結晶・材料
- レーザー用品・消耗品など
