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電子顕微鏡用校正標準

Applied Nanotools社の電子顕微鏡用校正標準は、電子顕微鏡用のキャリブレーションスタンダードです。AFM, STM, TEM, SEMといった各種電子顕微鏡において校正ツールとしてご利用いただけます。

サイズや形状などはカスタマイズ可能ですので、弊社営業部までお気軽にお問い合わせください。

アプリケーション

  • 電子顕顕微鏡の校正
  • 高分解能形状計測
  • X線イメージング

サンプル画像

L字パターン

セクタースターパターン

取扱製品

些細なことでもお気軽にお問い合わせください。 TEL 0798-31-0500 営業時間:平日9時~17時

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